Kompass Measurement Systems vereinen hochpräzise ein-, zwei- oder mehrdimensionale Antriebssysteme mit einzigartigen Kraftsensoren oder optischen Sensoren für die Messung verschiedenster Funktionsparameter und Materialeigenschaften in den Anwendungsgebieten:

  • Automotive, Schienenfahrzeuge, Luftfahrt
  • Energieversorgung, Windkraftanlagen
  • Kunststoffindustrie
  •  Lebensmittel, Pharmazie
  •  Petrolchemie (Lacke, Farben)
  •  Baustoffindustrie (Aushärteverhalten)

 

1d Measurement

Der Adhesion Tackiness Analyzer ist ein 1D-Kraftmesssystem für die hochpräzise, reproduzierbare und temperaturabhängige Bestimmung der Haft- und Klebeeigenschaften von Schmierstoffen, Fetten und anderen viskosen oder halbfesten Fluiden.

Features:

  • Messung der kompletten Eindrück- und Abzugskurve von Stoffen im mN-Bereich
  • Berechnung von Fadenlänge, Abzugskraft & -energie von viskoelastischen Materialien oder Lebensmitteln (Fette, Cremes, Honig, …)
  • Kraft, Abzugsgeschwindigkeit & Temperatur einstellbar
  • kleine Volumen und 15 verschiedene Proben
  • integrierte Heizfunktion bis 100°C
  • vollständig automatisierter Messprozess inkl. Software
  • umfassende Experimentkonfiguration & Visualisierung


2d Measurement

Der Pin-on-Disc Friction Analyzer ist ein 2D-Kraftmesssystem für die hochpräzise, universelle und lastabhängige Bestimmung des Reibkoeffizienten, v. a. von nachgiebigen Probenmaterialien wie Gummi oder Elastomeren, z. B. in beweglichen Dichtungen.

Features:

  • Regelung der Normalkraft & Messung der Reibkraft
  • Drehzahl, Drehwinkel & Radius exakt einstellbar
  • Kräfte von 100 mN bis 10 N, geregelt im mN-Bereich
  • optionales Spritzenmodul
  • vollständig automatisierter Messprozess inkl. Software
  • umfassende Experimentkonfiguration & Visualisierung
  • geringes Gewicht und kleine Stellfläche


3d Measurement

Der Coating-on-Rod Thickness Analyzer ist ein 3D-Ellipsometermesssystem für die ultrapräzise, schnelle und standardisierte Bestimmung der Schichtdicke auf runden Proben/Materialien, wie Stäben oder Drähten.

Features:

  • Messung von Schichtdicken im nm-Bereich
  • Auflösung unter 10 nm,
  • für Schichtmaterialien, die im NIR-Bereich transparent sind (SiO2, organische Materialien)
  • Durchschnittsbildung von bis zu 1200 Messpunkten
  • integrierter Panel-PC mit Linux-Betriebssystem
  • einfache & schnelle Testprozedur mit Ergebnisanzeige
  • kompaktes Gerät für die Laborumgebung